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ZEISS CONTURA
ZEISS CONTURA使您能夠在今天為明天的測量要求做好準備:新一代機器配備多應用探頭系統(mass technology)技術,并且憑借著通用接口,只需幾個簡單步驟即可實現不同探頭技術之間的簡單切換。
除了創新的選項,例如使用靈活的旋轉臺,自動探頭更換系統或HTG選件(適用于更大的溫度范圍)進行四軸測量,該設備還代表著卓越的性能,人體工程學和安全性。¥ 0.00立即購買
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ZEISS-SPECTRUM
可搭載各種接觸式傳感器,包括ZEISS VAST XXT和XDT。
ZEISS VAST XXT的掃描功能注重于效率和更可靠的測量:可以快速地檢測工件大量且高質量的數據。
其消除了單點測量所帶來的測量誤差,因此實現了更高的可靠性和重復性。¥ 0.00立即購買
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ZEISS MICURA
工業生產中的零部件日趨小型化,同時對測量精度的要求也在不斷提高,MICURA正是針對這一全新需求定制的解決方案。
MICURA采用蔡司VAST XT gold掃描探頭與navigator技術, 可在主動式掃描時獲得微米級的測量精度。它尤其適合測量光學和電子產品等結構復雜的小型工件。¥ 0.00立即購買
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ZEISS-PRISMO
領航者技術精準的高速掃描,navigator領航者技術是蔡司掃描技術的邏輯式增強的遞進。在掃描過程中,在確保精度的同時,還可以自動設定較高測量速度。通過切向掃描、螺旋掃描和快速動態測針校準,大幅節省了額外的時間。¥ 0.00立即購買
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ZEISS XENOS
XENOS可在各類要求高測量精度的領域使用——從科研機構的測量實驗室、航空和航天工業直至光學工業。這一高端測量機的測量精度達到技術極限,其測量范圍近1立方米。¥ 0.00立即購買
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ZEISS DuraMax
ZEISS DuraMax替代了量具。配備ZEISS VAST XXT掃描測頭,可輕松獲取輪廓和自由曲面的信息。¥ 0.00立即購買
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懸臂三坐標
ZEISS CALENO¥ 0.00立即購買
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ZEISS O INSPECT
能提供尖端光學和接觸式性能–完全的三維軟件,不會出現任何的漏洞。
CALYPSO軟件不僅能夠得到簡單易懂的報告,而且還能自動監測測量過程中產生的錯誤。¥ 0.00立即購買
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ZEISS O-DETECT
蔡司數碼變焦提供了高分辨率的大視野——提高效率和捕捉更多細節。利用500萬像素攝像機,結合蔡司處理技術,將圖像轉換成精確的測量結果,實現了高質量圖像的采集。¥ 0.00立即購買
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ZEISS ATOS Q
在工業行業,ATOS系統已成為光學三維測量領域的領導者。精明的光電子器件,工業級堅固測頭設計和功能強大的運算軟件是其成功的基礎。
ATOS Q繼承歷代ATOS系統的優點,并在設計、技術和性能上進一步完善,打造出了一款繼承ATOS優良DNA的多功能緊湊型系統。ATOS Q作為一款可靠的多功能掃描儀,可完美解決復雜的測量和檢測難題。緊湊的體積充分滿足高端計量需求。¥ 0.00立即購買
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ZEISS Smartzoom 5
一款智能型日常檢測和失效分析的自動化3D數碼顯微鏡,適用于質量保證與控制領域的所有應用??焖俸唵蔚陌惭b,全自動化的系統裝配有質量控制領域的專用組件,使得操作十分簡便,即使未經培訓的人員也能快速上手。¥ 0.00立即購買
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ZEISS Axiolab 5
若您的常規材料學研究對人體工程學操作和高效的數字化數據記錄有較高的需求,那么Axiolab 5便是您的理想之選。由于智能顯微鏡無需使用額外的成像軟件或計算機, 因此, 從經濟角度來說, Axiolab 5也會是您的理想之選。¥ 0.00立即購買
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ZEISS Smartproof 5
快速轉盤共聚焦顯微鏡——用于質量保證和控制的表面分析,快速,準確,可重復??捎糜诟鞣N工業應用,比如粗糙度分析和地形表征,質量保
證和質量控制部門,生產部門及 R&D 實驗室日常分析中需要解決的問題。¥ 0.00立即購買
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ZEISS EVO
EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起, 同時能夠吸引經驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學,材料科學, 或例行的工業質量保證和失效分析領域,憑借廣泛的可選配置, EVO 都可以根據您的要求量身定制。¥ 0.00立即購買
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ZEISS GeminiSEM
系列產品具有出色的探測效率,能夠輕松地實現亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下,更高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性,為您在材料科學研究、生命科學研究、工業實驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像,提供靈活、可靠的場發射掃描電子顯微鏡技術和方案。¥ 0.00立即購買
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ZEISS Sigma
用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡,將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合,利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間:設置成像與分析步驟,提高效率。¥ 0.00立即購買